聚焦离子束长宁扫描电镜Focused lon Beam SEM，当需要对细胞器等微小生物结构，进行三维高分辨成像与分析的时候，我们可以使用FIB-SEM双束长宁扫描电镜。

　　该技术利用高能聚焦的离子束对样品上的微小区域进行精密刻蚀，逐层刻蚀样品横切面，不断地暴露出新鲜切面，并使用电子束对新鲜切面实现连续成像，在x、y、z三个维度上同时具有纳米级别的分辨率，是进行亚细胞器级别精细结构三维成像分析的更佳选择。

　　长宁蔡司FIB长宁扫描电镜Crossbeam系列FIB-SEM提供稳定的三维成像，并辅助多项智能化功能设计，让整体工作流程简单、智能、易用。

　　冷冻聚焦离子束扫描电镜Cryo FIB-SEM

　　当需要对化学试剂处理

　　敏感的生物结构

　　进行自然状态成像的时候

　　我们可以使用cryo FIB-SEM

　　该方法在全程冷冻的条件下对样品成像，可以有效的避免敏感的生物结构在经过常规化学处理的过程中遭到破坏，甚至形成人造伪影，更大程度获得样品的真实三维结构信息。

　　蔡司Crossbeam系列FIB-SEM配备冷冻传输系统，-机多用，均可做常温和冷冻FIB-SEM两用。

　　优越的镜筒设计让未经过任何染色的生物结构也能被呈现得清清楚楚，是进行冷冻三维超微结构的优质选择。